1. Аникеев, И. И. Миграция электронов и дырок по точечным дефектам в компенсированных полупроводниках и элементах приборных структур на их основе : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Аникеев Илья Иванович ; Белорусский государственный университет. — ББК 22.379.2Издательство: Минск, 2024Физическая характеристика: 21 с. : ил.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: