Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 ; 01.04.01 / Во Тхань Тунг ; Белорусский государственный университет

Автор(ы): Во Тхань Тунг, кандидат физико-математических наукЯзык документа: Русский ; of summary,Английский ; of summary,Белорусский ; of summary,Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Минск, 2009Физическая характеристика: 23 с. : ил.ББК: 22.365.51Note(s): Резюме на английском, белорусском, русском языках; Библиография: с. 17—20 (24 назв.).Наименование темы, используемое как предмет: ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННЫХ СРЕД | ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ФИЗИКА | АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ | НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ | СТРУКТУРА ПОВЕРХНОСТИ | ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА | СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Предметная категория: Белорусский национальный документ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Авторефераты диссертаций/диссертации Авторефераты диссертаций/диссертации
ГОУБ. Отдел хранения основного фонда
Выдается

Резюме на английском, белорусском, русском языках

Библиография: с. 17—20 (24 назв.)

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: